用于检验铁磁性半成品的传感器系统
传感器系统 M的研发,是用于对铁磁性和奥氏体半成品材料等进行饱和磁化的的系统。主要应用领域是结合 DEFECTOMAT 涡流探伤主机对圆形或异型横截面的管材、棒材及金属线进行连续穿过式检测。传感器系统 M 可用于磁化直径范围约 1毫米至 240 毫米的材料。
优势一览
- 可选额外检测奥氏体和非铁磁性金属
- 检测材料直径 1 - 240 毫米
- 提供精细分级的线圈和导套,以便得到最佳的检测结果
- 适用于安装穿过式线圈、分段线圈和 阵列式线圈进行检测
- 配合DEFECTOMAT DA, DEFECTOMAT DI/CI 上的 FERROMAT 铁素体通道进行铁素体杂质探测
技术参数
检测材料直径: | 1 毫米 - 240 毫米 |
适用缺陷类型 DIN EN ISO 15549: | 横向缺陷和点状缺陷 |
适用于 FOERSTER 探伤设备: | DEFECTOMAT DA,DEFECTOMAT CI / DI,DEFECTOMAT ECM |
适用于 FOERSTER 线圈: | 穿过式线圈,分段线圈和 阵列式线圈 |