精密检验纵向瑕疵
CIRCOGRAPH DI 通过集成的功能可获得如 CIRCOGRAPH CI 相同的检验质量,但在该系统上舍弃了集成的操作计算机。可选择为 CIRCOGRAPH DI 装备其他功能,如存档功能。
通过外部链接的操作计算机进行操作、管理和存档。该系统确保对半成品材料表面上是否有纵向瑕疵进行精密检验。不同的传感器系统确保了可根据检验任务进行优化调整。通过 CIRCOGRAPH DI 的紧凑型结构几乎可集成在任何生产环境中。
优势一览:
- 紧凑型结构实现轻松集成进入生产流程
- 通过外部操作计算机便捷操作
- 万用检验系统,可根据定制应用和要求进行调整
- 双通道检验系统
- 连续运行中进行无间隙检验
- 瑕疵深度分辨率高于 30 µm
- 感应式操作软件
技术参数
检验材料: | 铁磁体、奥氏体和非铁磁体材料 |
传感器系统: | 旋转传感器系统,最多带有两个(Ro 20 和 Ro 35)相对布置的检验探头 |
检验频率: | 30 kHz - 1 MHz |
最大通过速度: | 无缝检验时为 3 m/s |
瑕疵检定: | Ro 20 / Ro 35 上 30 µm 以上 |